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工作原理：
基于X射線熒光光譜技術（XRF）。當X射線管激發待測樣品表面時，鍍層元素吸收能量后釋放特征熒光X射線，其強度與元素含量及鍍層厚度呈正相關。通過SDD探測器采集熒光信號，結合多變量非線性去卷積曲線擬合算法，儀器可實現多層鍍層厚度與成分的同步分析，精度達0.001μm，能量分辨率125±5eV。
應用范圍：
廣泛應用于電子制造、汽車零部件、五金加工及貴金屬檢測領域。
產品技術參數：
iEDX系列配備50kV/1mA微焦X射線管，支持鉬、鎢、銠靶自動切換，焦斑尺寸可調至75μm。XYZ三維移動平臺荷載20kg，移動范圍覆蓋192×250mm，滿足大尺寸樣品檢測需求。標配6個準直器及多個濾光片，可針對不同鍍層材料優化激發條件。分析軟件支持中、英、韓多語言界面，集成無標樣分析模式，測試時間10-60秒，數據可導出為PDF/Excel格式。
產品特點：
多鍍層分析能力：單次測量可解析1-5層鍍層結構，兼容金屬-金屬、金屬-合金復合鍍層；
合金成分同步檢測：元素分析范圍覆蓋Al至U，可定量分析鍍層中鎳、鈀、金等貴金屬含量；
高精度三維定位：高清CCD攝像頭實時監控測試點位，確保重復測量誤差＜0.5%；
工業級穩定性：全封閉非真空樣品腔設計，適應-10℃至50℃環境，MTBF＞5000小時。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
