XDL 210 熒光測厚儀
產品名稱及型號:熒光測厚儀 XDL210
說明:圖片僅供參考,您訂的機器可能與圖不完全一致
產品主要功能及應用領域:
XDL 210 熒光測厚儀主要用于
貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍
鋅、鐵鍍鉻、
銅鍍鋅、銅鍍
鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。
技術參數:
1、元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U);
2、一次可同時分析3層以上鍍層;
3、鍍層厚度分析檢出限可達0.01um;
4、分析厚度一般為0.1um到50um之間(視材料而不同);
5、多次測量重復性可達0.1um(對于小于1um的最外層鍍層)
6、長期工作穩定性為0.1um(對于小于1um的最外層鍍層)
7、配置小孔準直器,測試光斑在0.1mm以內;
8、探測器能量分辨率為145+5eV;
9、應用于金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等