X-RAY射線面密度測量儀
X-RAY射線面密度測量儀,廣泛應用于鋰電池正/負極極片、薄膜、膜片、基材、塑料、橡膠、紙張、非涂碳料的負極的面密度測量等領域。X射線的能量由內部高穩定性高壓電源決定,不會隨著時間衰減,保證測量的長期穩定性。同時,X射線,其能量相對較低,對周圍環境的輻射劑量小,不需要申請環評。
鋰電池極片、薄膜、基材、塑料、橡膠、紙張
測量原理
利用射線作用于被測物體后,射線將會被吸收、反射、散射一部分,從而導致透射物體后的射線強度相對入射前的射線強度有一定的衰減。
其衰減比例與被測物體的重量或面密度成負指數關系。通過測量透射被測物體前后的射線強度值,即可推算出極片重量或面密度。
主要配置
大理石支架:升級式射線盒固定方式
無橫向撓度變形,源盒和傳感器間距穩定,同步性高度一致
出色的防輻射效果
相比于國內其他廠家,設備掃描速度可以達到20m/min
20m/min有效掃描速度
離設備機殼外10cm處測量,其輻射都<1uSv/h.達到國家豁免標準;
極片高度方向波動對測量精度影響小
我司設備具有特殊裝置減輕極片離源盒距離波動對測量精度的影響,極片離源盒距離波動≤±2mm內,影響測量誤差≤0.33mg/m2.