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            江蘇蘇青水處理工程集團有限公司
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            納米光譜在線測厚儀

            納米光譜在線測厚儀

            409
            規格/型號:暫無
            品牌:賽默斐視
            應用領域:檢測設備
            產地:江蘇 - 無錫
            廠家/供應商:無錫賽默斐視科技有限公司
            咨詢電話::18112358302(請說明信息源自“中冶有色網”)
            更新時間:2025-03-17
            級別:待認證

            納米光譜在線測厚儀說明介紹

            納米光譜在線測厚儀

            納米光譜在線測厚儀


            品牌型號: 賽默斐視

            檢測對象: 薄膜/鍍膜/涂布等

            厚度范圍: 10納米-100微米

            檢測精度: 0.1mm(取決于相機數量、產線幅寬及車速)

            軟件功能: 提供針對客戶在線系統的定制檢測系統

            產品介紹

            現代薄膜涂布鍍層工藝在進行在線生產過程中,需要對膜厚及涂層厚度進行實時的在線測厚,由于傳統的射線類膜厚檢測儀檢測精度低、易偏移、難于校準等缺點給實際的工藝產品質量控制造成了很大的影響,SIMV涂層(膜厚)在線測厚儀,采用納米光學干涉的方式,可同時對20層不用涂層、薄膜進行同時測量,同時精度高達1nm,完美的解決了傳統射線類在線測厚儀有輻射、偏移周期長、檢測精度低、不能檢測涂層厚度的缺點。賽默斐視涂層厚度在線測厚儀檢測精度高,同時能夠實時在線自動校準,有效的保證了在線測厚儀的檢測精度。

            【檢測原理】

            當特定波長的光通過不同的的材料(不同的厚度、密度、成分)時,經過表面及內部多次反射之后形成的光譜條紋是完全不一樣的,系統通過分析所接收到的反射光的光譜干涉條紋特性,與系統庫中的光譜曲線進行匹配和對比,同時進行特征曲線的仿真和擬合,進而對每種不同成分厚度的涂層進行在線測量。

            1.入射光在膜的上下表面發生多次反射。

            2.反射光的強度和薄膜折射率,基底(substrate)折射率及膜厚,波長有關。

            3.在已知折射率的情況下,根據測量出的反射光強和波長的函數,計算出膜厚。

            功能概述

            1測量鍍膜或涂布厚度,厚度范圍在10納米-100微米,準確度達到2納米或厚度0.4%,精度達到0.1納米,測量穩定性0.3納米。

            2精確測量樣品的顏色和在380-780納米可見光范圍內的反射率曲線。

            3測量軟件支持20層以內的物理模型,并對多個參數進行同時測量。

            4具有折射率模型編輯擬合功能,對于100納米-幾個微米的膜,可以在折射率未知的情況下,結合軟件對膜厚,折射率參數進行同時測量。

            5軟件具有對樣品的粗糙度,背面反射,多角度入射進行建模的功能

            6軟件還可針對已知樣品的模型,使用不同入射角和偏振進行仿真以計算不同情況下反射率曲線。

            7軟件還擁有近千種材料的材料數據庫,同時還支持函數型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。

            8客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料,菜單進行管理并回溯檢查測量結果

            9我們還提供針對客戶在線系統的定制檢測系統。

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            無錫賽默斐視科技有限公司
            企業認證:
              
            所屬領域:
            檢測設備
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