覆層測厚儀ST180
ST180便攜式覆層測厚儀,集成了磁性和渦流兩種測厚方法,選擇相應測頭,可以快速、無損傷、精密地進行涂層、鍍層、薄膜厚度的測量。既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
一、概述
ST180便攜式覆層測厚儀,集成了磁性和渦流兩種測厚方法,選擇相應測頭,可以快速、無損傷、精密地進行涂層、鍍層、薄膜厚度的測量。既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
二、技術參數
三、主要功能
有十種測頭類型可供選擇,測頭接觸部件鍍硬鉻或為紅寶石,經久耐用;
通過選擇相應的測頭,既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;
具有測頭零點校準、一點校準、兩點校準功能, 并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正;
具有測量狀態提示功能;
有EL背光顯示,方便在光線昏暗環境中使用;
有剩余電量指示功能,可實時顯示電池剩余電量;
具有自動休眠、自動關機等節電功能;
帶有1通訊接口,可將測量值傳輸至PC機。
可選擇配備微機軟件,具有傳輸測量結果、測值存儲管理、測值統計分析、打印測值報告等豐富功能;
采用
鋁制外殼,小巧、便攜、堅實耐用,適用于惡劣的操作環境,抗振動、沖擊和電磁干擾。