簡介
蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析,都能在不損失精度的前提下,提高聚焦離子束的應用效率。
工作原理
1,生命科學,如斷層掃描,三維重構
2,電池領域,如原子層組分表征
3,半導體領域,如失效分析,電路修復
4,金屬領域,如界面分析,亞表面分析
5,材料科學,如晶體微觀結構分析,納米圖形化加工
6,透射電鏡、EBSD、微觀力學等多種樣品的原位制備
7,微納加工 技術參數
選型原則
檢測能力:SEM截面 、TEM制樣 、三維重構 應用案例

設備結構
蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析,都能在不損失精度的前提下,提高聚焦離子束的應用效率。