簡介
TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環境的200KV場發射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件,能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像,能進行選區電子衍射,能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數像的分析,STEM結合EⅨ點、線掃描的可以進行微區能譜分析。
工作原理
TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡可進行:
(1)形貌分析,它獲得非晶材料的質厚襯度像,多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像(原子像),通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關信息,冋時還可通過明場像、暗場像對樣品進行進一步的表征;
(2)結構分析,觀察硏究材料結構并對樣品進行納米尺度的微分析,如:髙分辨晶格條紋像,選取電子衍射等。
(3)成分分析:小到幾個納米尺度的微區或晶粒的成分分析,可對樣品進行能譜點測、能譜線掃,獲得樣品中的元素在一個點、一條線的分布情況。TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡廣泛應用于髙分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體材料等領域的科硏。
技術參數
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最大放大倍數105萬倍(1,050,000×)
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點分辨率0.24nm加速電壓:200KV
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極限(信息)分辨率0.14nm
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STEM分辨率0.2nm
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最小束斑尺寸0.2nm
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物鏡球差系數Cs1.2nm
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物鏡色差系數Cc1.2nm
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Ⅹ射線能譜范圍B5~U92X
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射線能譜儀能量分辨率136eV
選型原則
檢測能力:透射形貌、暗場像、髙分辨像、電子衍射,能譜
應用案例
下單網址:www.foftest.com 設備結構
TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環境的200KV場發射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件,能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像,能進行選區電子衍射,能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數像的分析,STEM結合EⅨ點、線掃描的可以進行微區能譜分析。