本發明公開了一種利用半導體測試儀讀取芯片信息的方法,序列圖形發生器產生圖形值并寫入圖形真值表中,數據比較器根據圖形值輸出X結果到數據失效存儲器,輸出Y結果到數據失效存儲器;通過測試程序設置數據選擇器,設定數字采集器各比特位與芯片測試通道的鏈接;再把數據失效存儲器中的X結果、Y結果值通過數字采集器中的異或邏輯門生成數字采集器的采集使能信號,用來控制將H結果或L結果值傳入數字采集器的存儲器中同該芯片測試通道對應的存儲區間;最后通過后臺處理將數字采集器存儲器中的數據傳入指定的數組變量中。通過本發明的方法可以利用半導體測試儀同時對多顆芯片的信息進行讀出操作,并節省測試時間。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)