本發明公開了一種USB芯片硅片級自動測試儀,包括:測試通道、失效數據存儲器、隨機存儲器、非歸零反相解碼模塊、數據文件和測試程序。本發明能實現將同時讀取的多個USB芯片的握手響應信號或數據并分別存儲于隨機存儲器中,從而能避免多個USB芯片的異步響應而造成的測試錯誤;能將存儲于隨機存儲器中非歸零反相編碼的握手響應信號或數據進行解碼,從而能實現多個USB芯片的同測、提高同測數目以及降低測試成本。本發明還公開了一種USB芯片硅片級測試方法。
聲明:
“USB芯片硅片級自動測試儀及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)