本發明公開了一種集成電路晶圓測試數據自動判斷系統,系統包括產品登記模塊、內控運算模塊、實時數據分析模塊、數據推送模塊、人工解鎖模塊;本發明提供的一種集成電路晶圓測試數據自動判斷系統,晶圓數據自動判斷系統只需要工程師將需要分析的產品錄入到系統中,錄入內容包含外控良率標準、Map圖失效圖形、DC測試項等,設置每天定時去分析登記的產品歷史測試數據,設置為內控良率標準。每當有晶圓測試完成后系統將各種判斷標準結合起來共同判斷,當系統判斷出結果異常時會推送給工程師查看,工程師確認無誤后再通過系統進行解鎖,否則無法進入下一個流程,而沒有異常時則可自動進入下一個流程。
聲明:
“集成電路晶圓測試數據自動判斷系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)