本發明提供一種多失效模式下電子產品可靠性指標加速驗證方法,該方法通過建立加速因子矩陣,對矩陣進行分析運算,在綜合考慮多失效模式以及多應力水平的情況下,確定最優的加速因子用以指導加速試驗設計;在此基礎上,通過建立加速試驗載荷譜,綜合利用加速因子、試驗時間以及產品的可靠性指標,最終確定合理的試驗時間用以驗證給定的可靠性指標;相較于傳統可靠性驗證試驗,該方法能夠有效縮短試驗時間,降低試驗費用。
聲明:
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