本發明公開了一種基于深度度量學習的EDA電路失效分析方法,包括步驟:一、根據原始分布對EDA電路樣本進行蒙特卡羅采樣,生成蒙特卡羅采樣樣本,并進行蒙特卡羅仿真,得到失效仿真結果;二、通過步驟一的蒙特卡羅采樣樣本和失效仿真結果,訓練一個能夠將失效樣本區分出來的深度度量學習模型;三、對待進行失效分析的EDA電路,采用蒙特卡羅采樣方法生成足夠多的失效分析樣本,并利用步驟二中訓練的深度度量學習模型對樣本進行篩選,篩選出可能失效樣本;四、對可能失效樣本進行SPICE電路仿真,得到失效的EDA電路并計算出失效率。本發明仿真效率高,可靠性高,在先進工藝大規模電路的仿真分析中具有明顯的優勢。
聲明:
“基于深度度量學習的EDA電路失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)