本發明公開一種機械結構件微結構損傷失效檢測分析方法,該方法包括以下步驟:步驟一、缺陷檢測:將待檢測機械結構件放置在電子加速器的靶頭前照射,用探測器對待檢測機械結構件進行探測;步驟二、缺陷定位:兩個探測器按預設角度接收待檢測機械結構件湮滅放出511keV光子,并兩個能譜通過三維合成云圖,通過云圖展示受檢機械結構件的缺陷位置;步驟三、S參數計算:光譜的定性分析圖,即得到可反映材料劣化信息的S參數;步驟四、缺陷情況分析:對于有缺陷的待檢測機械結構件,由于電子的動量小,造成的多普勒展寬小,得到的S參數大。本發明具有根據所放出的γ射線強度,評估材料的劣化情形的特點。
聲明:
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