本發明公開了一種基于光熱弱吸收的熔石英元件零概率損傷閾值預測方法,步驟包括預先針對與待測熔石英元件同型號的標準熔石英元件樣品對表面的區域進行不同程度加工,針對不同程度加工的區域進行光熱檢測得到光熱檢測值并進行激光閾值測試得到零概率損傷閾值,根據各個區域的光熱檢測值及其對應的零概率損傷閾值建立待測熔石英元件的光熱檢測?零概率損傷閾值關聯曲線模型;對待測熔石英元件進行光熱檢測得到光熱檢測值,根據所述光熱檢測?零概率損傷閾值關聯曲線模型查找對應的零概率損傷閾值,得到待測熔石英元件的零概率損傷閾值。本發明能夠實現對熔石英元件的無損檢測、操作簡單、準確性高、靈敏度高、能滿足強光光學系統使用要求。
聲明:
“基于光熱弱吸收的熔石英元件零概率損傷閾值預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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