本發明屬于物證檢驗領域,特別涉及一種紙幣檢驗方法,其利用微束XRF無損分析實驗樣品。在入射的微束X射線下,通過計算機軟件自動控制樣品連續移動對樣品進行掃描,每個掃描點激發的特征X射線光子進入能量檢測器,并通過放大器和多道分析器處理形成光譜,掃描結束后得到樣品的二維元素分布圖。最后將樣品紙幣的元素面分布特征與已知紙幣作比較,得出分析結果。該方法具有無損、靈敏度高,結果準確等特點,具有良好的應用前景。
聲明:
“紙幣檢驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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