本發明的目的在于提供一種基于微波熱成像技術的吸波涂層內部缺陷檢測裝置及方法,屬于吸波材料缺陷無損檢測技術領域。該裝置利用天線輻射的電磁信號致熱吸波涂層,并借助紅外熱像儀測量涂層的內部缺陷的紅外信號,通過改變致熱功率使涂層表面的缺陷區域的溫度達到動態平衡,結合熱能與電磁能的轉化關系,建立反射率、涂層入射場強以及缺陷區域溫度的關系式,最終建立反射率與缺陷深度的關系。本發明方法不需考慮線纜損耗的影響,使得缺陷深度計算結果更為準確。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)