本實用新型公開了一種高光物體面型的非接觸無損測量系統,它包括投影光源系統、偏振器、圖像傳感器、圖像采集卡和電腦;所述偏振器包括起偏器P1和檢偏器P2,其投影系統由投影光源系統和起偏器P1組成,其成像系統由圖像傳感器和檢偏器P2組成;所述圖像傳感器是接收變形光柵像的面陣探測器;所述投影光源為強度按正弦分布的面陣自然光,條紋的柵線垂直于參考平面。本實用新型從傅里葉變換輪廓術中光場的偏振特性出發,利用光學器件偏振器的濾光作用,結合現有傅里葉變換輪廓術和Phong光照模型,提出了一種高光物體面型的測量系統,理論分析與應用結果均證明了鏡面反射光將影響調制光場正確的高度分布。
聲明:
“高光物體面型的非接觸無損測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)