本發明公開了一種大型檢件無損檢測中缺陷的定位方法,屬于無損檢測技術領域。該方法,包括步驟:A:對大型檢件外表面進行分塊編號;B:將射線源或超聲波源置入所述的大型檢件中,開啟檢測;C:分析檢測結果圖像,找出缺陷及其方位;D:根據圖像上的方位標注找出缺陷部位隨對應的步驟A中塊編號;E:根據圖像上的缺陷位置確定大型檢件對應的外表面位置;F:將磁介定位器的放在大型檢件缺陷所對應的外表面位置;G:在大型檢件的內部移動磁介定位器的另一極,從而確定缺陷所對應的內表面位置。本方法大大減少了返修過程中的作業誤差和作業范圍,有利于精益化的開展返修工作。
聲明:
“大型檢件無損檢測中缺陷的定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)