本發明提供的是一種高精度超聲無損檢測方法及檢測裝置。超聲探頭組件包括一個發射探頭和兩個接收探頭。發射探頭發出的超聲波經過楔形塊的折射而入射到機械結構件內部,并在缺陷的邊緣產生衍射波。對兩個接收探頭所接收超聲衍射波的檢測與測量可以得到傳播時間tS1和tS2。由三個的超聲波探頭位置參數、傳播時間tS1和tS2所對應的傳播距離TL1與TL2參數形成了焦距、端點參數不同的兩個橢圓。通過橢圓方程組的結算便可獲得缺陷上端、下端邊緣的坐標值,由此可以計算出缺陷的長度L、傾斜角α、缺陷深度d幾何參數。通過探頭組件中安裝的CMOS圖像傳感器給出的(Δx,Δy)位移參數與缺陷測量值的數據融合,便可以繪制缺陷的高精度三維圖像。
聲明:
“超聲無損檢測方法及檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)