本發明屬于微流控芯片技術領域,具體為一種用于微流控芯片上樣品直接電噴霧電離的裝置及質譜分析方法。本發明裝置至少包括:放置微流控芯片的三維操作平臺;提供噴霧電壓的電極和脈沖高壓電源,所述提供噴霧電壓的電極與微流控芯片中的液體不發生直接接觸;以及設置在電離裝置旁的質譜。本發明無需在微流控芯片上制作或連接噴針或改變芯片微通道的原有設計,即可利用脈沖電壓的充、放電過程,對芯片微通道內的溶液樣品直接電離,進行質譜分析。此外,該裝置中高壓電機與溶液無直接接觸,不會因電極上發生化學反應而影響微流控芯片的原有功能。該裝置操作簡單,方便,適用于微流控芯片上樣品的直接電離、質譜分析。
聲明:
“用于微流控芯片上樣品直接電噴霧電離的裝置及質譜分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)