本發明一種X射線熒光分析校準所用校準樣品的制備和定值方法,利用實驗室收到的實際樣品為基體,通過摻入基準試劑(或替代試劑)來制備校準樣品。校準樣品的數量及各成份的質量分數范圍可以任意控制,校準樣品的定值全部通過X射線熒光儀完成,無需進行化學分析,配備X-射線熒光分析儀的實驗室即可自行制備校準樣品,無需化學分析實驗室及相關技術人員協助。
聲明:
“X射線熒光分析校準所用校準樣品的制備和定值方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)