本發明屬于微納米力學及精密機械領域,特別涉及一種用于掃描顯微環境的單軸雙向微力學測量裝置及測量方法。該裝置在主體支撐單元上安裝對稱的坐標式三維粗調平移臺、對稱的細調三維移動精密平臺及試樣平臺,通過控制系統及操縱單元控制操作,能夠完成微納米特征尺度材料和結構力學性能的檢測,實現單向對中拉伸、壓縮、彎曲和振動測量,以及微納米尺度試樣表面變形及微結構演化檢測;裝置可以多次使用,并可結合數字圖像/散斑相關技術、圖像處理技術或微標記技術實現高空間分辨掃描顯微環境下的試樣的原位變形和力學性能檢測。
聲明:
“用于掃描顯微環境的單軸雙向微力學測量裝置及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)