本發明公開了一種電子元件性能檢測方法、裝置、可讀介質及電子設備,方法包括:確定正常運行的電子設備中目標電子元件以各個工作頻率運行時所分別對應的基準溫度值,并根據各個所述基準溫度值生成基準溫度曲線;實時檢測所述電子設備中所述目標電子元件的當前工作頻率及當前溫度值;查詢所述基準溫度曲線以確定所述當前工作頻率所對應的基準溫度值;計算所述當前溫度值與所述當前工作頻率所對應的基準溫度值之間的溫度差,并確定所述溫度差是否大于第一預設溫度;當所述溫度差大于所述第一預設溫度時,確定所述目標電子元件發生性能衰減。通過本發明的技術方案,可確定電子電子元件是否發生性能衰減。
聲明:
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