權利要求
1.用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置，包括輻照箱（1），其特征在于：所述輻照箱（1）上端面鉸接有箱蓋（11），輻照箱（1）內表面側壁上固定連接有輻射源（12），且輻照箱（1）內固定安裝有均布機構（2），所述均布機構（2）上設置有防護組件（3）；所述均布機構（2）包括電機（21）、底座（22）、伸縮桿（23）、收納臺（24）、C型半圓板（25），所述輻照箱（1）內表面底部中心處固定連接有電機（21），所述電機（21）的輸出軸上固定連接有底座（22），所述底座（22）上端面對稱固定連接有若干組伸縮桿（23），每組所述伸縮桿（23）上套設有支撐彈簧，若干組所述伸縮桿（23）上端固定連接有一組收納臺（24），所述收納臺（24）上卡接有C型半圓板（25）。
2.根據權利要求1所述的用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置，其特征在于：所述收納臺（24）側壁上固定連接有一組限位塊（241），所述限位塊（241）遠離限位收納臺（24）的一側伸入平圓槽（242），所述平圓槽（242）開設在輻照箱（1）內表面側壁上。
3.根據權利要求1所述的用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置，其特征在于：所述防護組件（3）包括弧槽（31）、C型弧板（32）、傳動彈簧（33），所述C型半圓板（25）兩端對稱開設有一組弧槽（31），每組所述弧槽（31）貫穿并滑動連接有一組C型弧板（32），每組所述C型弧板（32）貫穿伸入弧槽（31）的一側固定連接有傳動彈簧（33），每組所述傳動彈簧（33）遠離C型弧板（32）的一端固定連接在弧槽（31）內表面底部，每組所述C型弧板（32）上固定連接有一組壓板（7）。
4.根據權利要求3所述的用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置，其特征在于：每組所述C型弧板（32）伸入弧槽（31）的一端固定連接有一組C型擋片，且每組所述C型擋片滑動連接在弧槽（31）內，每組所述C型擋片和弧槽（31）內表面底部固定連接有傳動彈簧（33），每組所述C型弧板（32）伸出弧槽（31）的一端固定連接有一組抵塊（321）。
5.根據權利要求3所述的用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置，其特征在于：一組所述C型弧板（32）內表面側壁上開設有一組標記槽，所述標記槽上轉動連接有轉棍（4），所述轉棍（4）一端貫穿并固定連接有標記環（4
聲明：
“用于半導體電子材料輻照效應研究的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：邳州市安達電子有限公司
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2025年07月23日 ~ 26日 
